发明公开
- 专利标题: 制备用于TEM成像的薄样本的方法
- 专利标题(英): Method for preparing thin samples for tem imaging
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申请号: CN201210178011.X申请日: 2012-06-01
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公开(公告)号: CN102809496A公开(公告)日: 2012-12-05
- 发明人: M.莫里亚蒂 , S.斯通 , J.布莱克伍德
- 申请人: FEI公司
- 申请人地址: 美国俄勒冈州
- 专利权人: FEI公司
- 当前专利权人: FEI公司
- 当前专利权人地址: 美国俄勒冈州
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 王岳; 李浩
- 优先权: 61/493308 2011.06.03 US
- 主分类号: G01N1/28
- IPC分类号: G01N1/28
摘要:
本发明涉及制备用于TEM成像的薄样本的方法。本发明的目的在于提供一种方法和设备,用于以减少或防止弯曲和垂落的方式制备TEM样本。本发明的优选实施例在制备样本的过程期间把材料沉积在TEM样本的面上。在一些优选实施例中,该材料能够在减薄相反面之前沉积在已经被减薄的样本面上,这能够用于加强样本的结构完整性并再填补由于垂落现象而被过度减薄的区域。在优选实施例中,材料也能够沉积在正被铣削的面上,这能够用于减少或消除样本面上的垂落。
公开/授权文献
- CN102809496B 制备用于TEM成像的薄样本的方法 公开/授权日:2016-09-07