发明公开
- 专利标题: 一种绝缘子外形尺寸非接触式测量装置及其方法
- 专利标题(英): Device and method for contactless measurement of contour dimension of insulator
-
申请号: CN201210306438.3申请日: 2012-08-27
-
公开(公告)号: CN102829734A公开(公告)日: 2012-12-19
- 发明人: 王建国 , 唐敏 , 季铮 , 王康 , 赵灵 , 江健武 , 刘亚文 , 操平梅
- 申请人: 武汉大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
- 专利权人: 武汉大学
- 当前专利权人: 武汉大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
- 代理机构: 武汉科皓知识产权代理事务所
- 代理商 鲁力
- 主分类号: G01B11/24
- IPC分类号: G01B11/24
摘要:
本发明涉及一种测量装置及其方法,尤其是涉及一种绝缘子外形尺寸非接触式测量装置及其方法。一种绝缘子外形尺寸非接触式测量装置,其特征在于,包括一个设有若干滚轮的底座、设置在底座上的机电自动控制器(3)、设置在机电自动控制器(3)上的驱动组件、与驱动组件连接的测量组件以及设置在底座上用于控制机电自动控制器(3)、驱动组件以及接收测量组件信息的计算机系统(4)。因此,本发明具有如下优点:可以在不接触物体情况下远距离获取绝缘子的影像,实现绝缘子三维结构的重建和测量。