用纳米孔的分析物测序
摘要:
本文提供属于使用纳米孔测序分析物单元的方法和系统。一般而言,阻拦构建体用于修饰分析物使得修饰的分析物在纳米孔的开口中中止。该中止期间,获得对应于分析物单元的离子电流水平。在改变修饰的分析物使得修饰的分析物通过开口前进之后,另一阻拦构建体再次中止分析物,允许获得代表第2分析物单元的第2离子电流水平。此过程可重复直到对各分析物单元测序。也公开实施该方法的系统。
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