Invention Grant
- Patent Title: 一种损伤阈值测量中微小尺度损伤点的识别方法及装置
- Patent Title (English): Recognition method and device for micro-scale damage point in damage threshold measurement
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Application No.: CN201210326292.9Application Date: 2012-09-05
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Publication No.: CN102841102BPublication Date: 2015-01-14
- Inventor: 马彬 , 张艳云 , 马宏平 , 程鑫彬 , 焦宏飞 , 王占山
- Applicant: 同济大学
- Applicant Address: 上海市杨浦区四平路1239号
- Assignee: 同济大学
- Current Assignee: 同济大学
- Current Assignee Address: 上海市杨浦区四平路1239号
- Agency: 上海科盛知识产权代理有限公司
- Agent 赵继明
- Main IPC: G01N21/88
- IPC: G01N21/88
Abstract:
本发明涉及一种损伤阈值测量中微小尺度损伤点的识别方法及装置,所述的方法包括以下步骤:采用暗场照明,在线显微镜在泵浦激光辐照前对被测样品进行拍摄,获得图片a;计算机对图片a进行处理,分别识别出图片a中所有灰度高于阈值T高和T低的缺陷点,获得缺陷点数据D0高和D0低;在线显微镜对辐射后的被测样品进行拍摄,获得图片b,计算机识别出图片b中所有灰度高于T高的缺陷点,获得缺陷点数据D1高;将D1高中的每一个缺陷点与D0高和D0低中的所有缺陷点进行逐一比较;计算机根据比较结果以及判定准则,识别样品是否发生损伤;所述的装置包括泵浦激光器、电动平移台、照明光源、在线显微镜和计算机。与现有技术相比,本发明具有可有效识别微小尺度损伤点、识别精度高等优点。
Public/Granted literature
- CN102841102A 一种损伤阈值测量中微小尺度损伤点的识别方法及装置 Public/Granted day:2012-12-26
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