发明授权
- 专利标题: 半导体的制造方法
- 专利标题(英): Semiconductor manufacturing process
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申请号: CN201110239111.4申请日: 2011-08-19
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公开(公告)号: CN102867741B公开(公告)日: 2015-03-25
- 发明人: 王文杰 , 陈逸男 , 刘献文
- 申请人: 南亚科技股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号
- 专利权人: 南亚科技股份有限公司
- 当前专利权人: 南亚科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号
- 代理机构: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- 代理商 臧建明
- 优先权: 13/175,882 2011.07.03 US
- 主分类号: H01L21/28
- IPC分类号: H01L21/28 ; H01L21/336
摘要:
一种半导体的制造方法。于一蚀刻机台中提供一基底,基底上形成有多个第一导体图案、一阻障层以及一图案化绝缘层,其中第一导体图案之间具有多个第一开口,阻障层覆盖第一导体图案的表面与第一开口的表面,图案化绝缘层形成于第一导体图案上且具有多个第二开口,第二开口暴露出位于第一导体图案的顶角上的阻障层,且各第二开口与对应的第一开口连通。于阻障层上沉积一聚合物层,其中位于第一导体图案的顶角上的聚合物层厚度大于位于第一开口的底部上的聚合物层厚度。进行一蚀刻工艺,以移除位于第一开口的底部上的聚合物层与阻障层。
公开/授权文献
- CN102867741A 半导体的制造方法 公开/授权日:2013-01-09
IPC分类: