发明公开
CN102867795A 半导体器件及制造该半导体器件的方法
无效 - 撤回
- 专利标题: 半导体器件及制造该半导体器件的方法
- 专利标题(英): Semiconductor device and method of manufacturing the same
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申请号: CN201210237416.6申请日: 2012-07-09
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公开(公告)号: CN102867795A公开(公告)日: 2013-01-09
- 发明人: 押田大介
- 申请人: 瑞萨电子株式会社
- 申请人地址: 日本神奈川县
- 专利权人: 瑞萨电子株式会社
- 当前专利权人: 瑞萨电子株式会社
- 当前专利权人地址: 日本神奈川县
- 代理机构: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 李兰; 孙志湧
- 优先权: 2011-150612 2011.07.07 JP
- 主分类号: H01L23/48
- IPC分类号: H01L23/48 ; H01L21/768
摘要:
本发明提供了一种半导体器件及制造该半导体器件的方法,所述半导体器件具有供应大电流的第一通路和第一互连,其中具有第一通路和第一互连的第一表面是平坦的。该半导体器件具有:第一通路,其从第一衬底的第一表面穿透第一衬底;和第一互连,其掩埋在第一衬底的第一表面中且与至少一个第一通路的一端连接。第一通路具有倾斜部分,在该倾斜部分中,形成在第一通路的侧面和第一通路的底部之间的角度大于形成在第一互连的侧面和第一互连的底部之间的角度。
IPC分类: