发明公开
- 专利标题: 散射吸收体测量方法和装置
- 专利标题(英): Method and device for measuring scattering-absorption body
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申请号: CN201180021484.2申请日: 2011-03-29
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公开(公告)号: CN102869978A公开(公告)日: 2013-01-09
- 发明人: 矢卷悦子 , 山下丰 , 小田元树 , 铃木裕昭 , 铃木俊彦 , 渡边裕司 , 古贺俊策
- 申请人: 浜松光子学株式会社
- 申请人地址: 日本静冈县
- 专利权人: 浜松光子学株式会社
- 当前专利权人: 浜松光子学株式会社
- 当前专利权人地址: 日本静冈县
- 代理机构: 北京尚诚知识产权代理有限公司
- 代理商 杨琦
- 优先权: 2010-105526 2010.04.30 JP
- 国际申请: PCT/JP2011/057871 2011.03.29
- 国际公布: WO2011/135965 JA 2011.11.03
- 进入国家日期: 2012-10-29
- 主分类号: G01N21/17
- IPC分类号: G01N21/17 ; G01N21/35
摘要:
从散射吸收体(B)的表面(Ba)所设定的一个光入射位置(I)入射规定波长的光(P),在散射吸收体(B)的表面(Ba)所设定的一个光检测位置(D)检测在散射吸收体(B)的内部传播的光(P)而获得光检测信号,基于该光检测信号,取得有关检测光的光强度的时间波形,基于该时间波形,运算散射吸收体(B)的内部的光(P)的平均光路长度(L)、以及与测量对象区域(B1)中的被测量物质的量关联的信息。此时,基于平均光路长度(L)修正与被测量物质的量关联的信息,使得平均光路长度(L)越长被测量物质的量越多。如果使用该方法,则能够通过简易的方法获得除去了介在组织的影响的测量结果。
公开/授权文献
- CN102869978B 散射吸收体测量方法和装置 公开/授权日:2015-07-29