发明授权
- 专利标题: 双光路单光栅的漫射照明反射光谱测量系统及测量方法
- 专利标题(英): System and method for measuring diffuse illumination reflection spectrum of dual-light path single grating
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申请号: CN201210337619.2申请日: 2012-09-04
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公开(公告)号: CN102879096B公开(公告)日: 2013-08-21
- 发明人: 袁琨 , 王聪 , 高世芝
- 申请人: 上海汉谱光电科技有限公司
- 申请人地址: 上海市青浦区青松路80弄5号305-365室
- 专利权人: 上海汉谱光电科技有限公司
- 当前专利权人: 上海汉谱光电科技有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市青浦区青松路80弄5号305-365室
- 代理机构: 上海东亚专利商标代理有限公司
- 代理商 刘莹
- 主分类号: G01J3/427
- IPC分类号: G01J3/427 ; G01J3/10 ; G01N21/25
摘要:
本发明公开了一种双光路单光栅的漫射照明反射光谱测量系统及测量方法,其中,所述双光路单光栅的漫射照明反射光谱测量系统包括积分球、挡板、测试光源、第一透镜、分光挡板、第二透镜、衍射光栅、主光路直角棱镜、参考光路直角棱镜、主光路阵列传感器和参考光路阵列传感器。使主光路和测试光路共用一组光学元件,同时获得主光路和参考光路的光谱信息,大大简化了产品结构的复杂性,降低了产品的成本;同时还兼容测试的稳定性,达到很好的测量分析效果;具有较佳的市场推广前景。
公开/授权文献
- CN102879096A 双光路单光栅的漫射照明反射光谱测量系统及测量方法 公开/授权日:2013-01-16