- 专利标题: 红外分析用待测薄片的制备方法及测定Fc、Ec和Et的方法
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申请号: CN201210380845.9申请日: 2012-10-09
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公开(公告)号: CN102879247B公开(公告)日: 2014-10-08
- 发明人: 王玉辉 , 刘国圣 , 张大伟 , 周丛
- 申请人: 神华集团有限责任公司 , 中国神华煤制油化工有限公司 , 中国神华煤制油化工有限公司包头煤化工分公司
- 申请人地址: 北京市东城区安定门西滨河路22号神华大厦
- 专利权人: 神华集团有限责任公司,中国神华煤制油化工有限公司,中国神华煤制油化工有限公司包头煤化工分公司
- 当前专利权人: 神华集团有限责任公司,中国神华煤制油化工有限公司,中国神华煤制油化工有限公司包头煤化工分公司
- 当前专利权人地址: 北京市东城区安定门西滨河路22号神华大厦
- 代理机构: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- 代理商 李丙林; 余刚
- 主分类号: G01N1/28
- IPC分类号: G01N1/28 ; G01N21/25
摘要:
本发明提供了一种红外分析用待测薄片的制备方法及测定Fc、Ec和Et的方法。该制备方法包括以下步骤:S1、将抗冲共聚物进行两次压片形成薄片;S2、将薄片在2~5min内冷却至室温形成待测薄片。将抗冲共聚物采用压片机进行两次压片,在压片过程中共聚物分子的晶型呈不规则排列,然后采用急速冷却的方式使薄片在2~5min内降温至室温,从而得到的待测薄片表面光滑、无斑点出现且呈半透明状态,内部的共聚物分子的晶型保持不规则排列,从而在采用其测定Fc、Ec和Et时,能够数据的重现性较好,测试结果较为准确,能够准确及时反映工艺状况。
公开/授权文献
- CN102879247A 红外分析用待测薄片的制备方法及测定Fc、Ec和Et的方法 公开/授权日:2013-01-16