Invention Grant
CN102920434B 荧光―光学联合断层成像系统及测量方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 荧光―光学联合断层成像系统及测量方法
- Patent Title (English): Fluorescence-optical combined tomography system and measuring method
-
Application No.: CN201210408665.7Application Date: 2012-10-23
-
Publication No.: CN102920434BPublication Date: 2014-11-26
- Inventor: 高峰 , 张伟 , 武林会 , 李娇 , 周仲兴 , 张丽敏 , 赵会娟
- Applicant: 天津大学
- Applicant Address: 天津市南开区卫津路92号
- Assignee: 天津大学
- Current Assignee: 天津大学
- Current Assignee Address: 天津市南开区卫津路92号
- Agency: 天津才智专利商标代理有限公司
- Agent 王顕
- Main IPC: A61B5/00
- IPC: A61B5/00

Abstract:
本发明公开一种荧光―光学联合断层成像系统及测量方法,包括光源模块,其产生不同波长的激发光并将这些激发光耦合成复合激发光;测量模块,用于放置成像目标体、接收复合激发光、对成像目标体分层进行测量,实现全三维扫描、散射出光子信号并将该光子信号转换为脉冲电信号输出;数据采集处理模块,其接收脉冲电信号并进行多维光子计数测量;计算机控制模块,用于对上述各个模块进行控制并对数据进行采集、分析和显示。本发明将荧光扩散断层成像(FDOT)与扩散光学断层成像(DOT)相融合,实现在FDOT中荧光产率和荧光寿命同时重建,提取出患病区域的目标,为下一步DOT中吸收系数和散射系数重建提供精确位置信息。
Public/Granted literature
- CN102920434A 荧光―光学联合断层成像系统及测量方法 Public/Granted day:2013-02-13
Information query