发明授权
- 专利标题: 试样分析装置和试样分析方法
- 专利标题(英): Sample analysis device and sample analysis method
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申请号: CN201180028145.7申请日: 2011-06-07
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公开(公告)号: CN102933967B公开(公告)日: 2015-03-18
- 发明人: 稻叶亨 , 松冈晋弥 , 坂诘卓 , 山下善宽 , 岛田贤史 , 小木修 , 原田裕至
- 申请人: 株式会社日立高新技术
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 金鲜英; 陈彦
- 优先权: 2010-131579 2010.06.09 JP; 2011-073876 2011.03.30 JP; 2011-123910 2011.06.02 JP
- 国际申请: PCT/JP2011/063046 2011.06.07
- 国际公布: WO2011/155489 JA 2011.12.15
- 进入国家日期: 2012-12-07
- 主分类号: G01N35/00
- IPC分类号: G01N35/00 ; B03C1/00 ; G01N33/543 ; G01N35/08
摘要:
本发明提供抑制磁性粒子(10)吸附的不均匀,以精度更好、高精度地进行检测的分析装置和分析方法。提供的试样分析装置具有:使含磁性粒子(10)的试样在其内部流动的流路(15)、以及在该流路(15)的磁性粒子捕捉区域中产生捕捉所述磁性粒子(10)的磁场的磁场产生设备(12),按照以下至少一种方式来构成:按照使粒子捕捉区域的下游端的流路截面积大于所述粒子捕捉区域的上游端的流路截面积的方式来构成,或者按照使所述磁场产生设备(12)所产生的磁场的大小在所述粒子捕捉区域的下游侧比上游侧大的方式来构成。
公开/授权文献
- CN102933967A 试样分析装置和试样分析方法 公开/授权日:2013-02-13