本发明涉及高电压设备绝缘检测技术领域，具体涉及一种基于频域介电谱的高压套管绝缘检测方法，该方法采用基于频域介电谱试验对套管的绝缘进行检测。通过本发明，避免了Garton效应对低电压下tanδ测量的影响，获取了套管在0.001Hz-1000Hz范围低电压下的真实tanδ频率曲线并用来判断套管的绝缘状态，相比传统采用套管单一50Hz频率点的tanδ判断套管绝缘状态，提高了判断的准确性。本发明的试验和测量装置结构简单、容易实现，避免了采用高电压下进行0.001Hz-1000Hz范围tanδ测量其试验装置难以实现的难题。