发明授权
CN103048522B 常压下低温等离子体密度参数的诊别方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 常压下低温等离子体密度参数的诊别方法
- 专利标题(英): Diagnosis method of low temperature plasma density parameter at atmospheric pressure
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申请号: CN201310010841.6申请日: 2013-01-11
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公开(公告)号: CN103048522B公开(公告)日: 2015-03-11
- 发明人: 张仲麟 , 王春生 , 江滨浩
- 申请人: 哈尔滨工业大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 代理机构: 哈尔滨市松花江专利商标事务所
- 代理商 张宏威
- 主分类号: G01R19/00
- IPC分类号: G01R19/00
摘要:
常压下低温等离子体密度参数的诊别方法,属于等离子体领域,本发明为解决现有等离子体诊断方法在其测量过程中精确度低、效率差、对环境要求较高、使用寿命短、成本相对昂贵等一系列问题。本发明方法包括以下步骤:步骤一、用电压互感器检测放电通道内气体压降Ug(t);步骤二、用电流互感器检测为传导电流jc(x,t);步骤三、根据步骤一获取的放电通道内气体压降Ug(t)和传导电流jc(x,t)获取总的放电电流jT;步骤四、根据步骤三获取的总的放电电流jT获取等离子体密度n(t);步骤五、获取离散化等离子体密度nm+1(t),以实现对等离子体密度参数的诊别。
公开/授权文献
- CN103048522A 常压下低温等离子体密度参数的诊别方法 公开/授权日:2013-04-17