- 专利标题: 一种定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法
- 专利标题(英): Method for qualitatively and quantitatively analyzing trace impurities in SF6 (Sulfur Hexafluoride) gas
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申请号: CN201310014608.5申请日: 2013-01-16
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公开(公告)号: CN103091440B公开(公告)日: 2015-04-29
- 发明人: 陈林聪 , 裘吟君 , 陈晓琳 , 张薇 , 李欣然
- 申请人: 海南电力技术研究院
- 申请人地址: 海南省海口市滨海大道123-8号信恒大厦
- 专利权人: 海南电力技术研究院
- 当前专利权人: 海南电网有限责任公司电力科学研究院
- 当前专利权人地址: 海南省海口市滨海大道123-8号信恒大厦
- 代理机构: 海口翔翔专利事务有限公司
- 代理商 刘清莲
- 主分类号: G01N30/88
- IPC分类号: G01N30/88
摘要:
本发明公开了一种定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法。其主要步骤包括:采样;利用气相色谱—质谱联用仪对样品进行定性、定量分析,检测器为四极杆质量检测器,色谱柱采用CP-Sil 5 CB毛细管柱。与现有技术相比,本发明检测组分种类全面,能够检测CF4、C2F6、CO2、C2F6S2、C4F10、C5F10、SO2F2、SF5OSO2F、SOF2、S2F10O、SO2、H2S等12种组分,并对上述化合物进行快速识别和准确定量分析。通过分析SF6气体中痕量杂质,能够控制充入电气设备中SF6气体品质,延长电气设备服役寿命。
公开/授权文献
- CN103091440A 一种定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法 公开/授权日:2013-05-08