发明授权
- 专利标题: X射线诊断装置
- 专利标题(英): X-ray diagnostic device
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申请号: CN201280001808.0申请日: 2012-01-10
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公开(公告)号: CN103096800B公开(公告)日: 2015-04-29
- 发明人: 松崎武夫 , 后藤康则 , 落合理绘
- 申请人: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社东芝,东芝医疗系统株式会社
- 当前专利权人: 东芝医疗系统株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 孙蕾
- 优先权: 2011-003438 2011.01.11 JP; 2012-001736 2012.01.09 JP
- 国际申请: PCT/JP2012/050293 2012.01.10
- 国际公布: WO2012/096266 JA 2012.07.19
- 进入国家日期: 2012-12-26
- 主分类号: A61B6/00
- IPC分类号: A61B6/00 ; G01T1/20 ; G03B42/02 ; G03B42/04
摘要:
具备X射线产生部(1),产生对被检体(P)照射的X射线;X射线检测部(2),包含检测透过被检体P的X射线的检测器(21),该X射线检测部生成X射线透过信息;图像生成部(7),根据X射线透过信息生成X射线图像;以及寿命探测部(11),根据X射线图像的输出值探测检测器的寿命,寿命探测部(11)具备:亮度等级值运算部(11b),根据在X射线图像或检测器中设定的关心区域中的输出值,计算对检测器(21)照射的X射线量;照射剂量累计部(11c),将由亮度等级值运算部(11b)计算出的X射线量加到每个关心区域的过去的X射线量上,计算关心区域中的累计照射剂量;以及寿命判定部(11d),根据累计照射剂量,进行与检测器21相关的寿命的判定。
公开/授权文献
- CN103096800A X射线诊断装置 公开/授权日:2013-05-08