- 专利标题: 用于集成电路运行参数监测的监测装置、系统和集成电路
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申请号: CN201180044113.6申请日: 2011-09-14
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公开(公告)号: CN103119455B公开(公告)日: 2015-11-25
- 发明人: D·魏斯
- 申请人: 菲尼克斯电气公司
- 申请人地址: 德国勃郎贝克市
- 专利权人: 菲尼克斯电气公司
- 当前专利权人: 菲尼克斯电气公司
- 当前专利权人地址: 德国勃郎贝克市
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 饶辛霞
- 优先权: 102010045278.5 2010.09.14 DE
- 国际申请: PCT/EP2011/004602 2011.09.14
- 国际公布: WO2012/034682 DE 2012.03.22
- 进入国家日期: 2013-03-14
- 主分类号: G01R31/317
- IPC分类号: G01R31/317 ; G01R31/30 ; G05B23/02
摘要:
本发明总体涉及一种用于集成电路运行参数监测的装置。在此,通过比较一个比较元件(11)的至少两个输入端上的输入信号(S2、S3)的切换状态,在该比较元件(11)的至少一个输出端上生成信号(S4),该信号说明所述至少一个运行参数低出或超出规定的阈值。所述两个输入信号由至少两个与运行参数有关的装置(12、13)生成并且根据所述至少一个运行参数的瞬时值在其切换特性中在时间上被延迟。在比较元件(11)的这两个输入信号(S2、S3)之间形成规定的时间延迟。该延迟的值使得在运行参数超出规定的阈值时所述输入信号(S2、S3)之一在由时钟信号(S1.1)为比较元件(11)规定的时刻因该规定的时间延迟改变其切换状态并且因此比较元件(11)显示不一致性并且因此以信号显示所述至少一个运行参数超出阈值。
公开/授权文献
- CN103119455A 用于集成电路运行参数监测的装置和具有运行参数监测装置的集成电路 公开/授权日:2013-05-22