- 专利标题: 超宽带SAR接收机下变频接收通道幅相特性测试方法
- 专利标题(英): Amplitude phase characteristic test method for down-conversion reception channel of ultra-wide band synthetic aperture radar (SAR) receiver
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申请号: CN201110373010.6申请日: 2011-11-22
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公开(公告)号: CN103138845A公开(公告)日: 2013-06-05
- 发明人: 贾颖新 , 王岩飞
- 申请人: 中国科学院电子学研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区北四环西路19号
- 专利权人: 中国科学院电子学研究所
- 当前专利权人: 中国科学院电子学研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区北四环西路19号
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 周国城
- 主分类号: H04B17/00
- IPC分类号: H04B17/00 ; H04B1/06 ; H04B1/7163
摘要:
本发明公开了一种超宽带SAR接收机下变频接收通道幅相特性测试方法,涉及合成孔径雷达(SAR)系统测试技术,包括以下步骤:1)搭建参考混频器并接入矢量网络分析仪;2)分别在被测下变频接收通道的输入频率范围和输出频率范围内对矢量网络分析仪的两个端口进行标准的单端口校准;3)搭建校准混频器,并进行校准混频器的表征;4)利用校准混频器进行直通校准;5)测试下变频接收通道的幅相特性。本发明方法主要用于测量合成孔径雷达多通道接收机的下变频接收通道的幅相频率特性,具有测量精度高、实现简便快捷的优点,为SAR系统幅相误差的准确提取和补偿提供了必要的手段。
公开/授权文献
- CN103138845B 超宽带SAR接收机下变频接收通道幅相特性测试方法 公开/授权日:2015-03-25