发明公开
- 专利标题: 绝缘子污秽监测方法及其监测装置
- 专利标题(英): Method and device for monitoring dirtiness of insulator
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申请号: CN201310065433.0申请日: 2013-03-01
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公开(公告)号: CN103149154A公开(公告)日: 2013-06-12
- 发明人: 罗洪 , 黄欢 , 曾华荣 , 赵立进
- 申请人: 贵州电力试验研究院
- 申请人地址: 贵州省贵阳市解放路251号
- 专利权人: 贵州电力试验研究院
- 当前专利权人: 贵州电力试验研究院
- 当前专利权人地址: 贵州省贵阳市解放路251号
- 代理机构: 贵阳中新专利商标事务所
- 代理商 赵彦栋
- 主分类号: G01N21/17
- IPC分类号: G01N21/17
摘要:
本发明公开了一种绝缘子污秽监测方法,该方法是在绝缘子上设置光纤,在光纤上连接信号输出及信号接收测比装置,并抛去光纤外包层,利用污秽粘在光纤表面时能够影响光纤内的光强来测定粘覆在绝缘子上的绝缘污秽度。本发明在绝缘子上设置剥皮后裸露的光纤,在随绝缘子使用的过程中,裸露光纤也会随之粘覆污秽,这样就会影响光纤的光强,从而可利用光强的变化来测定粘覆在绝缘子上的绝缘污秽度,相对现有的盐密监测方法,利用光强可直接监测带电绝缘子表面的污秽状况,又对绝缘子的绝缘性能和爬距不会产生影响。
公开/授权文献
- CN103149154B 绝缘子污秽监测方法及其监测装置 公开/授权日:2016-01-20