发明公开
CN103189754A 电容测量电路及电容测量方法
无效 - 撤回
- 专利标题: 电容测量电路及电容测量方法
- 专利标题(英): Capacitance measurement circuit and method for measuring capacitance thereof
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申请号: CN201180052575.2申请日: 2011-10-31
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公开(公告)号: CN103189754A公开(公告)日: 2013-07-03
- 发明人: 李芳远 , 文炳埈 , 洪在锡
- 申请人: 艾勒博科技股份有限公司
- 申请人地址: 韩国京畿道龙仁市
- 专利权人: 艾勒博科技股份有限公司
- 当前专利权人: 艾勒博科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道龙仁市
- 代理机构: 北京铭硕知识产权代理有限公司
- 代理商 韩明星; 郑玉
- 优先权: 10-2010-0109265 2010.11.04 KR
- 国际申请: PCT/KR2011/008190 2011.10.31
- 国际公布: WO2012/060591 KO 2012.05.10
- 进入国家日期: 2013-04-28
- 主分类号: G01R27/26
- IPC分类号: G01R27/26
摘要:
本发明涉及一种电容测量电路及电容测量方法。电容测量电路及电容测量方法中,控制单元与检测信号的电平无关地根据指定的规则产生预定次数的控制代码,当判别为产生的控制代码所对应的检测信号的电平为正常时,变更控制代码而测量电容值。因此,测量出的电容值将几乎不受噪声的影响,能够输出为稳定的值。