发明公开
CN103234917A 一种冲击温度及光谱发射率的实时测量系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种冲击温度及光谱发射率的实时测量系统
- 专利标题(英): Real-time measuring system for impact temperature and spectral emissivity
-
申请号: CN201310118001.1申请日: 2013-04-08
-
公开(公告)号: CN103234917A公开(公告)日: 2013-08-07
- 发明人: 李加波 , 周显明 , 曾小龙 , 李俊 , 叶素华 , 贾路峰 , 王为 , 傅秋卫 , 李赛男 , 陶天炯 , 翁继东 , 王翔 , 陈宏 , 刘盛刚 , 汪小松 , 向耀民
- 申请人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
- 申请人地址: 四川省绵阳市919信箱102分箱
- 专利权人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
- 当前专利权人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
- 当前专利权人地址: 四川省绵阳市919信箱102分箱
- 代理机构: 中国工程物理研究院专利中心
- 代理商 翟长明; 韩志英
- 主分类号: G01N21/25
- IPC分类号: G01N21/25
摘要:
本发明提供了一种冲击温度及光谱发射率的实时测量系统,所述的测量系统中的连续激光器的输出激光经高速声光调制器调制成能量比值恒定的双脉冲激光,分别在冲击波到达被测样品表面时刻的前后照射在被测样品表面上,同时与被测样品因冲击而产生的热辐射光信号一起被双光纤探头接收,由多通道辐射高温计进行探测。通过测量双脉冲激光信号幅度的变化及热辐射光信号幅度,可同时计算得到被测样品的光谱发射率及冲击温度。本发明中的光信号全部在光纤中传输,便于复杂环境中测量,连续激光器输出功率可连续独立调节,双脉冲激光时间响应快,能够实时反映冲击前后被测样品表面反射率的变化情况,适用于不同温度范围内的光谱发射率及冲击温度的测量。
公开/授权文献
- CN103234917B 一种冲击温度及光谱发射率的实时测量系统 公开/授权日:2015-01-28