发明授权
- 专利标题: 一种测量绝缘子局部表面电导率的装置和方法
-
申请号: CN201310147890.4申请日: 2013-04-25
-
公开(公告)号: CN103278688B公开(公告)日: 2016-03-02
- 发明人: 王黎明 , 郭晨鋆 , 梅红伟 , 孙保强 , 戴罕奇 , 刘霆 , 王耿耿
- 申请人: 清华大学深圳研究生院
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
- 专利权人: 清华大学深圳研究生院
- 当前专利权人: 中国电力科学研究院,国家电网公司,清华大学深圳研究生院
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
- 代理机构: 北京品源专利代理有限公司
- 代理商 马晓亚
- 主分类号: G01R27/02
- IPC分类号: G01R27/02
摘要:
本发明提供了一种测量绝缘子局部表面电导率的装置和方法,所述装置包括:电源模块,采用电池供电,提供直流电;振荡电路模块,与电源模块相连接,将提供的直流电转变成正弦交流电;测量探头;采样电路模块,提供采样电压;真有效值转换电路模块,与采样电路模块相连接,对采样电压进行真有效值的转换;控制模块,与真有效值转换电路模块相连接,将采样电压的真有效值转换成数字信号;显示模块,与控制模块相连接,将采样电压的真有效值显示出来。本发明提供了一种测量绝缘子局部表面电导率的装置和方法,在不对绝缘子表面污层进行破坏的情况下,实现了直接采用仪器测量绝缘子的局部表面的电导率,并能直接读取数值,提高了测量的稳定性与精度。
公开/授权文献
- CN103278688A 一种测量绝缘子局部表面电导率的装置和方法 公开/授权日:2013-09-04