发明授权
- 专利标题: 光学玻璃亚表面缺陷的检测方法
- 专利标题(英): Method for detecting subsurface defects of optical glass
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申请号: CN201310251032.4申请日: 2013-06-21
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公开(公告)号: CN103308529B公开(公告)日: 2015-05-13
- 发明人: 王威 , 冯素雅 , 陈伟 , 胡丽丽
- 申请人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 申请人地址: 上海市嘉定区800-211邮政信箱
- 专利权人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 当前专利权人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址: 上海市嘉定区800-211邮政信箱
- 代理机构: 上海新天专利代理有限公司
- 代理商 张泽纯
- 主分类号: G01N21/91
- IPC分类号: G01N21/91
摘要:
一种光学玻璃亚表面缺陷的检测方法,包括下列的步骤:①将辅助溶剂和水按20%-50%比例均匀混合,形成混合液体;②向所述的混合液体中加入荧光素得到缓冲液,荧光素在混合液体中的浓度为1×10-5molL~5×10-3molL;③在磨料中加入所述的缓冲液作为研磨剂,使用该研磨剂研磨光学玻璃;④在抛光粉中加入所述的缓冲液作为抛光液,使用该抛光液抛光光学玻璃;⑤使用超声波酒精清洗所述的抛光光学玻璃,在355nm单色光照射下,使用荧光显微镜观测抛光后的光学玻璃。本发明对光学玻璃亚表面缺陷的无损检测,具有显示、定位、无损、可标记的特点。
公开/授权文献
- CN103308529A 光学玻璃亚表面缺陷的检测方法 公开/授权日:2013-09-18