发明授权
- 专利标题: 飞行时间型质量分析装置
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申请号: CN201180068055.0申请日: 2011-12-20
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公开(公告)号: CN103380479B公开(公告)日: 2016-01-20
- 发明人: 绢川亨 , 古桥治
- 申请人: 株式会社岛津制作所
- 申请人地址: 日本京都府
- 专利权人: 株式会社岛津制作所
- 当前专利权人: 株式会社岛津制作所
- 当前专利权人地址: 日本京都府
- 代理机构: 北京林达刘知识产权代理事务所
- 代理商 刘新宇
- 优先权: 2010-283187 2010.12.20 JP
- 国际申请: PCT/JP2011/079471 2011.12.20
- 国际公布: WO2012/086630 JA 2012.06.28
- 进入国家日期: 2013-08-20
- 主分类号: H01J49/40
- IPC分类号: H01J49/40 ; G01N27/62 ; H01J49/06
摘要:
说明双级式反射器的实施例。(1)设想由基极电位XA(U)的均匀电场构成的反射器,通过调整其设计参数来抵消全部飞行时间T(E)的E=E0时的一次微分和二次微分,求出电位值为E0的中心轴上的二次收敛位置(Mamyrin解)。(2)以二次收敛位置为起始点,计算与XA(U)叠加的校正电位XC(U),使得在二次收敛位置的更深侧反射的离子的T(E)固定。(3)确定反射电极的电压值,使得在中心轴上形成实际电位XR(U)=XA(U)+XC(U)。如以上那样,以Mamyrin解的基极电位进行能量补偿到二次为止,但通过叠加校正电位而进一步将能量补偿扩展到无限的高次,对于在校正电位部反射的离子实现完全等时性。另外,在校正电位开始点的前后实际电位平滑地连接,偏离均匀电场的偏差最小,因此最大限度地抑制由离子轨迹的发散和轴偏离造成的时间像差。
公开/授权文献
- CN103380479A 飞行时间型质量分析装置 公开/授权日:2013-10-30