发明授权
- 专利标题: 像素结构的制造方法及其结构
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申请号: CN201310174068.7申请日: 2013-05-13
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公开(公告)号: CN103383989B公开(公告)日: 2016-01-27
- 发明人: 吕思慧 , 李明贤
- 申请人: 友达光电股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行二路1号
- 专利权人: 友达光电股份有限公司
- 当前专利权人: 友达光电股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行二路1号
- 代理机构: 北京律诚同业知识产权代理有限公司
- 代理商 梁挥; 鲍俊萍
- 优先权: 102110487 2013.03.25 TW
- 主分类号: H01L51/50
- IPC分类号: H01L51/50 ; H01L51/56 ; H01L27/32
摘要:
一种像素结构的制造方法,其至少包括下列步骤。于基板上形成图案化半导体层,且形成绝缘层覆盖图案化半导体层。形成图案化金属层于绝缘层上,再形成第一介电层覆盖图案化金属层。接着进行低温退火工艺,再进行等离子处理工艺。于等离子处理工艺之后,形成第二介电层覆盖第一介电层。形成第三介电层覆盖第二介电层。形成漏极与源极于第三介电层上,其中漏极与源极与图案化半导体层接触。形成保护层于漏极与源极上。形成像素电极于保护层上,且像素电极与漏极接触。本发明亦提出一种像素结构由上述像素结构的制造方法所制成。
公开/授权文献
- CN103383989A 像素结构的制造方法及其结构 公开/授权日:2013-11-06
IPC分类: