发明授权
CN103399021B 一种透明光学元件亚表面裂纹的检测方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种透明光学元件亚表面裂纹的检测方法
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申请号: CN201310355809.1申请日: 2013-08-15
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公开(公告)号: CN103399021B公开(公告)日: 2015-11-04
- 发明人: 彭云峰 , 林桂丹 , 郭隐彪
- 申请人: 厦门大学
- 申请人地址: 福建省厦门市思明南路422号
- 专利权人: 厦门大学
- 当前专利权人: 厦门大学
- 当前专利权人地址: 福建省厦门市思明南路422号
- 代理机构: 厦门南强之路专利事务所
- 代理商 马应森; 曾权
- 主分类号: G01N21/958
- IPC分类号: G01N21/958 ; G01B11/22
摘要:
一种透明光学元件亚表面裂纹的检测方法,涉及一种光学元件。用HF酸溶液对透明光学元件表面清洗,然后利用抽真空装置对透明光学元件表面抽真空造成低压,同时在透明光学元件局部表面喷洒不与光学元件反应的小分子颜料的溶液,直至小分子颜料进入并充满亚表面裂纹,随后移除抽真空装置,再清洗透明光学元件表面,利用角度交叉的双摄像头对透明光学元件表面多点拍摄;利用显微镜调焦对界面下的缺陷成像,再通过分析算法,处理成三维图像,并计算亚表面裂纹深度。操作简便,可在位对透明光学元件进行检测;可对透明光学元件后续亚表面损伤去除量提供准确直观的信息参考;可在位对透明光学元件进行检测。
公开/授权文献
- CN103399021A 一种透明光学元件亚表面裂纹的检测方法 公开/授权日:2013-11-20