一种精确测量波片相位延迟量的方法，属波片参数测量技术领域，该装置包括光源，光阑、起偏器、待测波片、检偏器、光谱仪和计算机，通过测量出第一光谱强度I1(λ)的分布曲线和第二光谱强度I2(λ)的分布曲线，得到归一化光谱透过率T(λ)曲线。再根据透过率为定值的直线与所述归一化光谱透过率T(λ)曲线的交点波长，利用计算机计算出待测波片相位延迟量和其他多个物理参数。本发明是一种非接触无损测量技术，通过测量可一次性获得宽光谱范围内待测波片的绝对相位延迟量、有效相位延迟量、厚度、级次等多个物理参数，本方法测量精度高，测量装置易于调节，对于起偏器、待测波片和检偏器的方位无严格要求，适用于非复合型晶体波片的测量。