发明授权
- 专利标题: LEU的C接口信号测试设备及测试方法
- 专利标题(英): Test device and test method for C interface signals of lineside electronic unit (LEU)
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申请号: CN201310332644.6申请日: 2013-08-02
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公开(公告)号: CN103427920B公开(公告)日: 2015-06-03
- 发明人: 闫炜祎 , 刘浩 , 郭超 , 家天龙
- 申请人: 北京交大思诺科技有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区大柳树路富海中心2号楼富海大厦1608
- 专利权人: 北京交大思诺科技有限公司
- 当前专利权人: 北京交大思诺科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区大柳树路富海中心2号楼富海大厦1608
- 主分类号: H04B17/00
- IPC分类号: H04B17/00
摘要:
本发明公开了一种LEU的C接口信号测试设备与测试方法,该测试设备包括:继电控制模块,用于调整C接口信号输入的负载电阻;C1信号处理模块,用于采集经过继电控制模块后的C接口信号中的C1信号并进行处理;C6信号处理模块,用于采集经过继电控制模块后的C接口信号中的C6信号并进行处理;信号检测模块,用于检测C1信号的参数与C6信号的参数,并提取报文信息、误码率;SCI通信模块,用于实现C接口信号测试设备与上位机的通信。利用该发明提供的设备对C接口信号进行测试时无需单独准备精密仪表,可方便、快速的进行测量,由于体积小、方便携带、供电简单,便于室外、轨旁作业,还具有操作简便、功耗低、成本低等优点。
公开/授权文献
- CN103427920A LEU的C接口信号测试设备及测试方法 公开/授权日:2013-12-04