LEU的C接口信号测试设备及测试方法
摘要:
本发明公开了一种LEU的C接口信号测试设备与测试方法,该测试设备包括:继电控制模块,用于调整C接口信号输入的负载电阻;C1信号处理模块,用于采集经过继电控制模块后的C接口信号中的C1信号并进行处理;C6信号处理模块,用于采集经过继电控制模块后的C接口信号中的C6信号并进行处理;信号检测模块,用于检测C1信号的参数与C6信号的参数,并提取报文信息、误码率;SCI通信模块,用于实现C接口信号测试设备与上位机的通信。利用该发明提供的设备对C接口信号进行测试时无需单独准备精密仪表,可方便、快速的进行测量,由于体积小、方便携带、供电简单,便于室外、轨旁作业,还具有操作简便、功耗低、成本低等优点。
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