一种对界定至少一条内通道（110、120）的组件（100）进行热检查的方法。所述方法包括在由所述至少一条内通道在所述组件的表面（102）界定的至少一个出口孔（122）接收热图像（712）的连续序列。所述方法还包括传递加压的气流脉冲进入所述至少一条内通道，基于所接收的热图像，根据时间接收温度响应信号（1000、1000a、1000b、1000c），确定所述温度响应信号的一阶导数（1001、1001a、1001b、1005），以及基于所述温度响应信号的一阶导数确定所述至少一条内通道的阻塞级别。