发明公开
- 专利标题: 光强分布的测量方法
- 专利标题(英): Method for measuring light intensity distribution
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申请号: CN201210192083.X申请日: 2012-06-12
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公开(公告)号: CN103487139A公开(公告)日: 2014-01-01
- 发明人: 朱钧 , 朱景雷 , 姜开利 , 冯辰 , 魏继卿 , 金国藩 , 范守善
- 申请人: 清华大学 , 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室
- 专利权人: 清华大学,鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室
- 主分类号: G01J1/04
- IPC分类号: G01J1/04
摘要:
一种光强分布的测量方法,包括以下步骤:提供一设置于基底一表面的碳纳米管阵列,并将该设置于基底的碳纳米管阵列放置于一惰性环境或真空环境中,所述碳纳米管阵列具有一远离基底的第一表面;用一待测光源照射所述碳纳米管阵列的第一表面,使该碳纳米管阵列辐射出可见光;提供一反射镜,使该碳纳米管阵列所辐射的可见光经该反射镜反射;以及利用一成像元件对反射镜所反射的可见光成像,并读出待测光源的光强分布。
公开/授权文献
- CN103487139B 光强分布的测量方法 公开/授权日:2015-07-29