发明公开
- 专利标题: 试样镶嵌装置
- 专利标题(英): Specimen embedding device
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申请号: CN201310481344.4申请日: 2013-10-15
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公开(公告)号: CN103487312A公开(公告)日: 2014-01-01
- 发明人: 蔡晓文 , 吴安术 , 陈义 , 张洪俊 , 陈容 , 刘锦燕 , 陈述
- 申请人: 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司
- 申请人地址: 四川省攀枝花市东区桃源街90号
- 专利权人: 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司
- 当前专利权人: 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司
- 当前专利权人地址: 四川省攀枝花市东区桃源街90号
- 代理机构: 北京铭硕知识产权代理有限公司
- 代理商 谭昌驰; 刘灿强
- 主分类号: G01N1/36
- IPC分类号: G01N1/36
摘要:
本发明公开了一种试样镶嵌装置和试样镶嵌方法,所述试样镶嵌装置包括:镶嵌盒,镶嵌盒的底部具有用于容纳试样的凹槽;第一屏蔽盒,设置在镶嵌盒的侧部,第一屏蔽盒具有第一开口,所述第一开口面对镶嵌盒的侧壁,第一屏蔽盒中设置有电磁铁,电磁铁的磁场通过第一开口扩散到第一屏蔽盒外部;以及第二屏蔽盒,设置在镶嵌盒的下方,第二屏蔽盒具有第二开口,所述第二开口对应于镶嵌盒的凹槽,第二屏蔽盒中设置有强磁体,强磁体磁场通过第二开口扩散到第二屏蔽盒外部。电磁铁的磁场强度是可变的,并且第一屏蔽盒与镶嵌盒之间的相对位置是可调节的。
公开/授权文献
- CN103487312B 试样镶嵌装置 公开/授权日:2016-02-17