发明公开
CN103515544A 背沟道蚀刻金属氧化物薄膜晶体管和工艺
失效 - 权利终止
- 专利标题: 背沟道蚀刻金属氧化物薄膜晶体管和工艺
- 专利标题(英): Back channel etch metal-oxide thin film transistor and process
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申请号: CN201310424346.X申请日: 2013-06-14
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公开(公告)号: CN103515544A公开(公告)日: 2014-01-15
- 发明人: 洪铭钦 , 张世昌 , V·古普塔 , 朴英培
- 申请人: 苹果公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚
- 专利权人: 苹果公司
- 当前专利权人: 苹果公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 冯玉清
- 优先权: 61/660,626 2012.06.15 US; 13/913,373 2013.06.07 US
- 主分类号: H01L51/56
- IPC分类号: H01L51/56
摘要:
本公开涉及背沟道蚀刻金属氧化物薄膜晶体管和工艺。提供一种制造有机发光二极管OLED显示器的方法。该方法包括形成包括第一和第二金属层的薄膜晶体管TFT基板。该方法还包括在第二金属层上沉淀第一钝化层和在沟道区域和存储电容器区域上形成第三金属层。第三金属层构造为连接到第二金属层的第一部分,第二金属层的第一部分构造为在穿过栅极绝缘体和第一钝化层的第一通孔中连接到第一金属层。该方法还包括在第三金属层上沉积第二钝化层和在第二钝化层上形成阳极层。阳极构造为连接到第三金属层的第二部分,第三金属层的第二部分构造为在第一钝化层和第二钝化层的第二通孔中连接到第二金属层。
公开/授权文献
- CN103515544B 背沟道蚀刻金属氧化物薄膜晶体管和工艺 公开/授权日:2016-03-09
IPC分类: