Invention Grant
CN103557946B 一种光学延迟测量方法及装置
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种光学延迟测量方法及装置
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Application No.: CN201310518331.XApplication Date: 2013-10-29
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Publication No.: CN103557946BPublication Date: 2016-03-16
- Inventor: 陶世兴 , 赵新才 , 杨丽玲 , 温伟峰 , 李建中 , 肖正飞 , 胡腾 , 阳庆国 , 刘宁文 , 彭其先 , 李泽仁
- Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
- Applicant Address: 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- Assignee: 中国工程物理研究院流体物理研究所
- Current Assignee: 中国工程物理研究院流体物理研究所
- Current Assignee Address: 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- Agency: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司
- Agent 徐宏; 吴彦峰
- Main IPC: G01J9/00
- IPC: G01J9/00
Abstract:
本发明涉及高精度时间延迟测量技术领域，尤其是涉及一种光学自相关方法测量光学延迟测量方法及装置。本发明针对现有技术中存在的问题，提供一种基于光学自相关的精确延迟测量方法，该方法能够测量小于10皮秒时间延迟，最大测量范围则由自相关仪量程决定，测量相对精度优于1%。本发明通过脉冲激光器、第一光纤耦合器、延迟线装置、第二光纤耦合器、自相关仪、处理器等配合实现。本发明适用于光纤，自由空间光学领域亚纳秒时间延迟的精确测量。
Public/Granted literature
- CN103557946A 一种光学延迟测量方法及装置 Public/Granted day:2014-02-05
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