使用磁性二氧化硅颗粒的测定方法和该测定方法用试剂
摘要:
本发明的测定对象物质测定方法的特征在于,使用磁性二氧化硅颗粒来测定试样中的测定对象物质,在所述磁性二氧化硅颗粒中,在含有60重量%~95重量%的平均粒径为1nm~15nm的超顺磁性金属氧化物的二氧化硅颗粒的表面,固定化有测定对象物质、测定对象物质的类似物质或者与测定对象物质特异性结合的物质。
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