发明授权
- 专利标题: 化学机械抛光装置及化学机械抛光的方法
-
申请号: CN201210299234.1申请日: 2012-08-21
-
公开(公告)号: CN103624673B公开(公告)日: 2016-04-20
- 发明人: 陈枫
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 骆苏华
- 主分类号: H01L21/304
- IPC分类号: H01L21/304 ; B23B37/02 ; B24B37/34 ; B24B37/013
摘要:
一种化学机械抛光装置及化学机械抛光的方法,其中,化学机械抛光装置包括:基座;固定于基座表面的研磨垫,研磨垫内具有检测窗,检测窗表面与研磨垫表面齐平,检测窗为透光材料;位于基座内的光头,光头位于检测窗下方,且光头与检测窗之间为空腔;固定于基座内的位置调节装置,位置调节装置与光头连接;位于研磨垫上方的检测装置,检测装置位于研磨垫上方,检测装置到研磨垫中心的水平距离、与第一检测装置到研磨垫中心的水平距离一致;分别与位置调节装置和第一检测装置连接的控制器,控制器根据检测装置检测的研磨垫减薄的厚度,控制光头下降相同距离。所述化学机械抛光装置光学终点检测精确。
公开/授权文献
- CN103624673A 化学机械抛光装置及化学机械抛光的方法 公开/授权日:2014-03-12
IPC分类: