发明公开
CN103645406A 一种电平测试系统
无效 - 驳回
- 专利标题: 一种电平测试系统
- 专利标题(英): Level testing system
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申请号: CN201310741775.X申请日: 2013-12-27
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公开(公告)号: CN103645406A公开(公告)日: 2014-03-19
- 发明人: 王毅 , 唐瀚 , 孙洪亮 , 郑可 , 冯凌 , 侯兴哲 , 陈文礼 , 张羽 , 周全 , 胡晓锐
- 申请人: 国家电网公司 , 国网重庆市电力公司电力科学研究院
- 申请人地址: 北京市西城区西长安街86号
- 专利权人: 国家电网公司,国网重庆市电力公司电力科学研究院
- 当前专利权人: 国家电网公司,国网重庆市电力公司电力科学研究院
- 当前专利权人地址: 北京市西城区西长安街86号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 王宝筠
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00
摘要:
本发明公开了一种电平测试系统,包括:被测设备;与所述被测设备相连的线性阻抗稳定网络,所述线性阻抗稳定网络为所述被测设备提供线性稳定阻抗的工频电压;第一输入端与所述线性阻抗稳定网络和所述被测设备之间的中线相连,第二输入端与所述线性阻抗稳定网络和所述被测设备之间的相线相连的信号耦合器;与所述信号耦合器的输出端相连的EMI测试接收机;其中,所述信号耦合器将所述被测设备的差模干扰电平耦合至所述EMI测试接收机,所述EMI测试接收机对所述差模干扰电平进行测试,输出测试结果,本发明实现了对被测设备的差模干扰的测试。