发明授权
- 专利标题: X射线CT装置、计算装置以及X射线CT装置的维护方法
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申请号: CN201280034424.9申请日: 2012-07-05
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公开(公告)号: CN103648392B公开(公告)日: 2016-01-13
- 发明人: 植木广则 , 渡边史人
- 申请人: 株式会社日立医疗器械
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立医疗器械
- 当前专利权人: 株式会社日立制作所
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 齐秀凤
- 优先权: 2011-153981 2011.07.12 JP
- 国际申请: PCT/JP2012/067186 2012.07.05
- 国际公布: WO2013/008712 JA 2013.01.17
- 进入国家日期: 2014-01-10
- 主分类号: A61B6/03
- IPC分类号: A61B6/03
摘要:
X射线CT装置中,防止因X射线的射束硬化效应即BH效应所引起的CT值的定量性劣化。预先保存通过模拟而求取的X射线吸收特性(S)和其目标值(T),利用通过用于取得BH修正所需的基础数据的维护测量所测量得到的投影数据,来修正模拟值(S),并利用修正后的X射线吸收特性(S)和目标值(T)来计算BH修正系数。由此,能够以较少的实测值来提高BH精度,实现CT值的非均匀性所引起的误诊的降低和实现伴随CT值定量性提高的诊断能力的提高。
公开/授权文献
- CN103648392A X射线CT装置、计算装置、X射线CT装置用记录介质以及X射线CT装置的维护方法 公开/授权日:2014-03-19