Invention Grant
- Patent Title: 下它是会发光的电压即发光所需电压,对暗点进缺陷检测方法、有机EL元件的修复方法以及 行检测。有机EL显示面板
-
Application No.: CN201380002539.4Application Date: 2013-02-22
-
Publication No.: CN103733728BPublication Date: 2017-03-08
- Inventor: 岛村隆之 , 林田芳树 , 盐田昭教 , 土田臣弥
- Applicant: 株式会社日本有机雷特显示器
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 株式会社日本有机雷特显示器
- Current Assignee: 日本显示器设计开发合同会社
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京市中咨律师事务所
- Agent 徐健; 段承恩
- Priority: 2012-134817 2012.06.14 JP
- International Application: PCT/JP2013/001015 2013.02.22
- International Announcement: WO2013/186961 JA 2013.12.19
- Date entered country: 2014-02-08
- Main IPC: H01L51/50
- IPC: H01L51/50

Abstract:
本发明提供一种对具有第一电极(12)、第二电极(17)、夹在第一电极(12)和第二电极(17)之间的功能层(16)以及发光层(15)的有机EL元件进行的缺陷监测方法。所述缺陷检测方法包括:暗点显在化工序,通过在第一电极(12)和第二电极(17)之间施加用于使暗点显在化的电压,所述暗点是发光层(15)成为不发光的点,从而在有机EL元件在第一电极(12)和第二电极(17)之间具有成为引起不发光的原因的缺陷部(3)的情况下,使功能层(16)的与缺陷部(3)对应的第一部分(16c)的电阻下降;和暗点检测工序,在暗点显在化工序之后,在第一电极和第二电极之间施加如果是没有缺陷部的正常的有机EL元件的情况(56)对比文件CN 101174376 A,2008.05.07,全文.JP 2010267420 A,2010.11.25,全文.
Public/Granted literature
- CN103733728A 缺陷检测方法、有机EL元件的修复方法以及有机EL显示面板 Public/Granted day:2014-04-16
Information query
IPC分类: