下它是会发光的电压即发光所需电压,对暗点进缺陷检测方法、有机EL元件的修复方法以及 行检测。有机EL显示面板
Abstract:
本发明提供一种对具有第一电极(12)、第二电极(17)、夹在第一电极(12)和第二电极(17)之间的功能层(16)以及发光层(15)的有机EL元件进行的缺陷监测方法。所述缺陷检测方法包括:暗点显在化工序,通过在第一电极(12)和第二电极(17)之间施加用于使暗点显在化的电压,所述暗点是发光层(15)成为不发光的点,从而在有机EL元件在第一电极(12)和第二电极(17)之间具有成为引起不发光的原因的缺陷部(3)的情况下,使功能层(16)的与缺陷部(3)对应的第一部分(16c)的电阻下降;和暗点检测工序,在暗点显在化工序之后,在第一电极和第二电极之间施加如果是没有缺陷部的正常的有机EL元件的情况(56)对比文件CN 101174376 A,2008.05.07,全文.JP 2010267420 A,2010.11.25,全文.
Patent Agency Ranking
0/0