发明公开
- 专利标题: 用于检测散射光信号的设备和方法
- 专利标题(英): Device and method for detecting scattered light signals
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申请号: CN201380002342.0申请日: 2013-09-06
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公开(公告)号: CN103782327A公开(公告)日: 2014-05-07
- 发明人: E-W·万格 , A·西门斯
- 申请人: 艾摩罗那股份公司
- 申请人地址: 瑞士楚格
- 专利权人: 艾摩罗那股份公司
- 当前专利权人: 艾摩罗那股份公司
- 当前专利权人地址: 瑞士楚格
- 代理机构: 北京润平知识产权代理有限公司
- 代理商 肖冰滨; 陈潇潇
- 优先权: 12183529.2 2012.09.07 EP
- 国际申请: PCT/EP2013/068504 2013.09.06
- 国际公布: WO2014/037520 DE 2014.03.13
- 进入国家日期: 2014-01-22
- 主分类号: G08B17/107
- IPC分类号: G08B17/107
摘要:
描述了一种用于检测散射光信号的设备和方法。光源(10)向光呈现会出现颗粒的散射光区域(15)。为了降低成本以及提高检测精度的目的,设备(100)包括用于检测散射光的多个光传感器(21、22、23、24、25、26、27、28、29、30)以及用于评估由光传感器检测到的信号的评估单元,其中所述传感器(21、22、23、24、25、26、27、28、29、30)各自以相对于入射轴(11)的传感器角度(W1、W2、W3、W4、W5、W6、W7、W8、W9、W10)布置以检测来自散射光区域的散射光,其中多个光传感器(21、22、23、24、25、26、27、28、29、30)中的一个光传感器是参考传感器,并且其中所述评估单元被设计为将其它光传感器的信号轮廓与参考传感器的信号轮廓相关联,其中光传感器(21、22、23、24、25、26、27、28、29、30)的信号轮廓用于分类任何会出现在散射光区域(15)内的颗粒。
公开/授权文献
- CN103782327B 用于检测散射光信号的设备和方法 公开/授权日:2015-08-05