发明公开
- 专利标题: 向量调制器中的IQ不平衡的测量
- 专利标题(英): Measurement of IQ imbalance in a vector modulator
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申请号: CN201310757258.1申请日: 2013-11-20
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公开(公告)号: CN103840896A公开(公告)日: 2014-06-04
- 发明人: Z·D·阿扎里
- 申请人: 特克特朗尼克公司
- 申请人地址: 美国俄勒冈州
- 专利权人: 特克特朗尼克公司
- 当前专利权人: 特克特朗尼克公司
- 当前专利权人地址: 美国俄勒冈州
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 刘金凤; 王忠忠
- 优先权: 13/683,102 2012.11.21 US
- 主分类号: H04B17/00
- IPC分类号: H04B17/00 ; H04L27/36
摘要:
本发明描述了确定IQ调制器中的不平衡的方法。示例方法包括对I信道和Q信道应用一组至少三个测试信号以产生输出,然后从耦合到IQ调制器的频率测量装置接收输出。该组测试信号中的一些可能与该组中的其他测试信号显著不同。在频率特定输出被接收后,该方法测量一个或多个值,并从所测量的值导出IQ调制器中的不平衡。实施例还包括调整测试信号的参数直到测量到最小距离。还描述了装置,其包括测试信号发生器、输出分析器以及最小化器,所述最小化器被构造用于使测试信号发生器产生使得在输出中测量的距离为最小距离的一组测试信号。
公开/授权文献
- CN103840896B 向量调制器中的IQ不平衡的测量 公开/授权日:2017-09-29