利索-全球专利检索

  1. 登录
  2. 注册
发明公开
CN103907015A 劣化分析方法 有权 复审申请

  • 专利标题： 劣化分析方法
  • 专利标题（英）： Deterioration analyzing method
  • 申请号： CN201280053328.9
    申请日： 2012-11-02
  • 公开(公告)号： CN103907015A
    公开(公告)日： 2014-07-02
  • 发明人: 金子房惠 , 岸本浩通
  • 申请人： 住友橡胶工业株式会社
  • 申请人地址： 日本国兵库县神户市中央区胁浜町3丁目6番9号
  • 专利权人： 住友橡胶工业株式会社
  • 当前专利权人： 住友橡胶工业株式会社
  • 当前专利权人地址： 日本国兵库县神户市中央区胁浜町3丁目6番9号
  • 代理机构： 上海市华诚律师事务所
  • 代理商 杜娟
  • 优先权： 2011-242600 2011.11.04 JP; 2011-260894 2011.11.29 JP; 2011-268277 2011.12.07 JP
  • 国际申请： PCT/JP2012/078421 2012.11.02
  • 国际公布： WO2013/065809 JA 2013.05.10
  • 进入国家日期： 2014-04-29
  • 主分类号： G01N23/06
  • IPC分类号： G01N23/06 ;  G01N23/227
劣化分析方法
摘要：
本发明提供一种能对含有两种以上二烯系聚合物的高分子材料的劣化状态，特别是表面状态的劣化状态进行详细分析的劣化分析方法。本发明涉及一种劣化分析方法，该方法通过对含有两种以上二烯系聚合物的高分子材料照射高亮度X射线，在改变X射线能量的同时测定X射线吸收量，来分析各二烯系聚合物的劣化状态。
摘要（英）：

Provided is a deterioration analyzing method which enables detailed analysis of the deterioration, particularly surface deterioration, of a polymer material comprising two or more diene-based polymers. The present invention pertains to a deterioration analyzing method which comprises: irradiating a polymer material comprising two or more diene-based polymers with high-brightness X-rays; measuring the absorbed amounts of the X-rays while varying the energy of the X-rays; and thereby analyzing the deterioration of each diene-based polymer.

公开/授权文献
0/0