本发明公开了一种确认半成品电池片抗PID性能的测试方法，该方法的步骤如下：a)取抗PID半成品电池片；b)将去离子水滴在抗PID半成品电池片的表面上；c)将经过步骤b)处理的抗PID半成品电池片倾斜成与水平面有一定角度的倾斜状；d)通过去离子水滴在抗PID半成品电池片上的形态判定该抗PID半成品电池片的抗PID性能是否合格：当去离子水滴在抗PID半成品电池片上不具有扩散趋势，则该抗PID半成品电池片的抗PID性能不合格；当去离子水滴在抗PID半成品电池片上有扩散趋势并且能够沿着倾斜方向顺势流下，则该抗PID半成品电池片的抗PID性能合格。本发明能够缩短判定电池片是否具有基本的抗PID能力的时间。