Invention Grant
CN103983854B 石英晶体电参数测试系统
失效 - 权利终止
- Patent Title: 石英晶体电参数测试系统
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Application No.: CN201410183468.9Application Date: 2014-04-30
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Publication No.: CN103983854BPublication Date: 2016-09-21
- Inventor: 王艳林 , 李东 , 刘桂礼
- Applicant: 北京信息科技大学
- Applicant Address: 北京市海淀区清河小营东路12号
- Assignee: 北京信息科技大学
- Current Assignee: 北京信息科技大学
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清河小营东路12号
- Agency: 北京铭硕知识产权代理有限公司
- Agent 鲁恭诚
- Main IPC: G01R27/02
- IPC: G01R27/02 ; G01R27/26 ; G01R23/02

Abstract:
一种石英晶体电参数测试系统包括:计算机,发出控制信号;信号发生器,根据控制信号产生第一正弦信号至第四正弦信号;第一π网络,连接到第一石英晶体的两端并接收第一正弦信号;第二π网络,连接到第二石英晶体的两端并接收第二正弦信号;第一混频及幅值检测电路至第四混频及幅值检测电路,分别输出第一差频信号至第四差频信号;第一鉴相电路,输出第一差频信号与第三差频信号之间的第一相位差;第二鉴相电路,输出第二差频信号和第四差频信号之间的第二相位差;模拟数字转换器,接收第一相位差和第二相位差,将第一相位差和第二相位差转换为数字信号并将所述数字信号输入到计算机。
Public/Granted literature
- CN103983854A 石英晶体电参数测试系统 Public/Granted day:2014-08-13
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