Invention Grant
- Patent Title: 光学计测装置
-
Application No.: CN201280057337.5Application Date: 2012-09-12
-
Publication No.: CN103988046BPublication Date: 2017-03-08
- Inventor: 山川慎介 , 的场贤一 , 松井优贵 , 嶋田浩二
- Applicant: 欧姆龙株式会社
- Applicant Address: 日本京都府京都市
- Assignee: 欧姆龙株式会社
- Current Assignee: 欧姆龙株式会社
- Current Assignee Address: 日本京都府京都市
- Agency: 隆天知识产权代理有限公司
- Agent 金相允; 向勇
- Priority: 2011-207412 2011.09.22 JP
- International Application: PCT/JP2012/073320 2012.09.12
- International Announcement: WO2013/042594 JA 2013.03.28
- Date entered country: 2014-05-22
- Main IPC: G01B11/00
- IPC: G01B11/00
Abstract:
在本发明的光学计测装置中，利用光对计测对象物(200)进行计测，具有头部(10)、控制部测装置中，光纤(11)连接头部(10)和控制部(20)。存储部(40)分别与所制造的头部(10)的各个体相关联，存储由控制部(20)进行运算所需的信息，来作为头部(10)的个体信息。控制部(20)，从相对于控制部(20)而在物理上独立存在的存储部(40、41)中读取个体信息，利用所读取的个体信息进行运算。(20)、光纤(11)、存储部(40)。在本发明的光学计
Public/Granted literature
- CN103988046A 光学计测装置 Public/Granted day:2014-08-13
Information query
