Invention Grant
- Patent Title: 测试分选机
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Application No.: CN201410189222.2Application Date: 2014-05-07
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Publication No.: CN104001680BPublication Date: 2017-07-04
- Inventor: 罗闰成 , 权宁镐 , 金溶范
- Applicant: 泰克元有限公司
- Applicant Address: 韩国京畿道华城市东滩面东滩一般产业团地11-7Block
- Assignee: 泰克元有限公司
- Current Assignee: 泰克元有限公司
- Current Assignee Address: 韩国京畿道华城市东滩面东滩一般产业团地11-7Block
- Agency: 北京冠和权律师事务所
- Agent 朱健
- Priority: 10-2013-0069776 20130618 KR
- Main IPC: B07C5/36
- IPC: B07C5/36
Abstract:
本发明涉及支持半导体元件的测试的测试分选机。根据本发明的测试分选机，在将半导体元件推向测试器而使半导体元件与测试器电连接的推进装置中具有出入开关器，该出入开关器容许或阻止匹配板由构成于支撑匹配板的支撑装置的各支撑轨所支撑并进入设置位置或从设置位置退出。根据本发明，由于能够稳定地设置匹配板，因而提高设备的可靠度。
Public/Granted literature
- CN104001680A 测试分选机 Public/Granted day:2014-08-27
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