发明公开
- 专利标题: 氮化物半导体发光元件、以及氮化物半导体发光元件的制作方法
- 专利标题(英): NITRIDE SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING ELEMENT, AND METHOD FOR MANUFACTURING NITRIDE SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING ELEMENT
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申请号: CN201280053028.0申请日: 2012-08-13
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公开(公告)号: CN104025318A公开(公告)日: 2014-09-03
- 发明人: 京野孝史 , 盐谷阳平 , 上野昌纪
- 申请人: 住友电气工业株式会社
- 申请人地址: 日本大阪府大阪市
- 专利权人: 住友电气工业株式会社
- 当前专利权人: 住友电气工业株式会社
- 当前专利权人地址: 日本大阪府大阪市
- 代理机构: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 李亚; 穆德骏
- 优先权: 2011-241523 2011.11.02 JP
- 国际申请: PCT/JP2012/070629 2012.08.13
- 国际公布: WO2013/065381 JA 2013.05.10
- 进入国家日期: 2014-04-28
- 主分类号: H01L33/32
- IPC分类号: H01L33/32 ; H01S5/343
摘要:
本发明提供一种设置于半极性面上并抑制了发光所需要的偏压电压的上升的氮化物半导体发光元件以及该氮化物半导体发光元件的制作方法。在具有半极性面的主面(13a)的由六方晶类氮化物半导体构成的支撑基体上设置的发光层(17)的多重量子阱构造由阱层(17a)和阱层(17c)、以及阻挡层(17b)构成,阻挡层(17b)设置于阱层(17a)和阱层(17c)之间,阱层(17a)和阱层(17c)由InGaN构成,阱层(17a)和阱层(17c)具有处于0.15以上0.50以下的范围的铟组成,主面(13a)相对于六方晶类氮化物半导体的c面的倾斜角α处于50度以上80度以下的范围、以及130度以上170度以下的范围中的任一范围,阻挡层(17b)的膜厚的值L处于1.0nm以上4.5nm以下的范围。
IPC分类: