发明授权
- 专利标题: 光学检查设备和光学检查系统
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申请号: CN201410075590.4申请日: 2014-03-04
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公开(公告)号: CN104034508B公开(公告)日: 2017-01-11
- 发明人: 西胁正行 , 春山弘司
- 申请人: 佳能株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 佳能株式会社
- 当前专利权人: 佳能株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 欧阳帆
- 优先权: 2013-046250 2013.03.08 JP
- 主分类号: G01M11/00
- IPC分类号: G01M11/00 ; G01N21/958
摘要:
本发明涉及光学检查设备和光学检查系统。一种通过测量从光学扫描设备发射的扫描光的光量来检查光学扫描设备的光学系统的光学检查设备包括:缝隙板,提供有用于允许一部分扫描光通过的多个缝隙以使得包括扫描有效部;扩散器,扩散已经通过缝隙的扫描光;光导,引导由扩散器扩散的扫描光;光学传感器,测量由光导引导的扫描光的光量;以及检查装置,通过将光学传感器获取的测量结果与预设参考值进行比较来检查光学系统的状态,其中在利用扫描光在缝隙板上执行扫描的方向上间隔地布置缝隙。
公开/授权文献
- CN104034508A 光学检查设备和光学检查系统 公开/授权日:2014-09-10