发明授权
- 专利标题: 半导体封装和封装半导体装置的方法
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申请号: CN201410092916.4申请日: 2014-03-13
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公开(公告)号: CN104051334B公开(公告)日: 2017-07-28
- 发明人: 杨永波 , 小安东尼·班巴拉·迪曼诺 , 胡振鸿
- 申请人: 联测总部私人有限公司
- 申请人地址: 新加坡宏茂桥第二工业园区22幢
- 专利权人: 联测总部私人有限公司
- 当前专利权人: 联测总部私人有限公司
- 当前专利权人地址: 新加坡宏茂桥第二工业园区22幢
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 郭婧婧
- 优先权: 13/802769 20130314 US
- 主分类号: H01L21/768
- IPC分类号: H01L21/768 ; H01L23/538
摘要:
披露半导体封装和用于形成半导体封装的方法。所述方法包括提供一种具有第一和第二主表面的封装衬底。所述封装衬底包括具有成型材料的基座衬底和多个互连结构,所述互连结构包括延伸穿过所述封装衬底的所述第一主表面到所述第二主表面的通孔触点。提供一种在其第一或第二表面上具有导电触点的裸片。所述裸片的所述导电触点电耦接到所述互连结构。在所述封装衬底上形成封盖以包封所述裸片。
公开/授权文献
- CN104051334A 半导体封装和封装半导体装置的方法 公开/授权日:2014-09-17
IPC分类: