Invention Grant
- Patent Title: 一种利用互调分量检测微波部件微放电的方法
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Application No.: CN201410288806.5Application Date: 2014-06-24
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Publication No.: CN104062565BPublication Date: 2016-08-24
- Inventor: 魏焕 , 马伊民 , 崔万照
- Applicant: 西安空间无线电技术研究所
- Applicant Address: 陕西省西安市长安区西街150号
- Assignee: 西安空间无线电技术研究所
- Current Assignee: 西安空间无线电技术研究所
- Current Assignee Address: 陕西省西安市长安区西街150号
- Agency: 中国航天科技专利中心
- Agent 安丽
- Main IPC: G01R31/12
- IPC: G01R31/12

Abstract:
一种利用互调分量检测微波部件微放电的方法,这一方法的核心是利用多个信号输入被测系统或部件,由于微放电的非线性特性,使得输出产生输入的多个信号之间的互调信号,利用微放电发生前后互调信号幅度的变化来检测微放电现象。该方法主要包括以下几个步骤:对于单载波和脉冲工作条件下选择符合规则的连续波作为测试的辅助载波,对于多载波情况下不需要增加辅助载波;按照测试原理框图连接微放电检测系统;通过观测多个信号之间互调分量幅度变化来检测微放电现象。该方法与现有的微放电检测方法相比,都能灵敏可靠地检测微放电现象,但该方法检测设备更加简单,同时检测微放电的思想新颖。
Public/Granted literature
- CN104062565A 一种利用互调分量检测微波部件微放电的方法 Public/Granted day:2014-09-24
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