发明授权
- 专利标题: 基于散斑干涉和条纹投影测量航天器结构变形的装置及测量方法
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申请号: CN201410400543.2申请日: 2014-08-14
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公开(公告)号: CN104132624B公开(公告)日: 2017-01-11
- 发明人: 杨再华 , 陶力 , 易旺民 , 万毕乐 , 闫荣鑫 , 刘涛 , 胡瑞钦 , 徐志东 , 刘浩淼 , 阮国伟
- 申请人: 北京卫星环境工程研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区友谊路104号
- 专利权人: 北京卫星环境工程研究所
- 当前专利权人: 北京卫星环境工程研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区友谊路104号
- 主分类号: G01B11/16
- IPC分类号: G01B11/16
摘要:
本发明公开了一种基于散斑干涉和条纹投影测量航天器结构变形的装置,主要包括激光散斑投影装置、CCD相机、条纹投影装置、数据采集及控制单元等,激光散斑投影装置利用激光散斑干涉测量方法,对被测结构板的局部变形进行测量,条纹投影测量装置通过条纹投影测量及多次测量数据拼接,对大范围的变形进行测量。通过基于散斑干涉和条纹投影组合测量航天器的结构变形,可以实现对航天器结构微变形的大范围、非接触测量,2m×2m范围内的整体精度可达10um,局部需要高精度测量的0.2m×0.2m范围的测量精度可达1um。
公开/授权文献
- CN104132624A 基于散斑干涉和条纹投影测量航天器结构变形的装置及测量方法 公开/授权日:2014-11-05