发明授权
CN104142467B 键盘寿命测试装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 键盘寿命测试装置
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申请号: CN201310163856.6申请日: 2013-05-07
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公开(公告)号: CN104142467B公开(公告)日: 2017-08-15
- 发明人: 张荣斌
- 申请人: 神讯电脑(昆山)有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市昆山市综合保税区第二大道269号
- 专利权人: 神讯电脑(昆山)有限公司
- 当前专利权人: 神讯电脑(昆山)有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市昆山市综合保税区第二大道269号
- 主分类号: G01R31/327
- IPC分类号: G01R31/327
摘要:
一种键盘寿命测试装置,其应用于笔记本电脑键盘测试中,所述键盘上具有标注不同数字的按键,所述按键具有第一至第二十四信号引脚,所述测试装置包括:键盘排线,其具有对应所述第一至第二十四信号引脚的第一至第二十四端子;键盘连接器,其具有与所述第一至第二十四端子对应的第一至第二十四引脚;测试电路,其包括显示单元、供电单元及导线,所述显示单元及供电单元均电性串接于所述导线中,所述导线的一端接所述第一至第十六引脚中的任意一引脚,另一端接所述第十七至第二十四引脚中的任意一引脚。本发明可以随时监测被测试按键的状态,无需每测试百万次就必须取下键盘,从而节省了精力和避免频繁的拆卸安装机台及停始寿命测试机。
公开/授权文献
- CN104142467A 键盘寿命测试装置 公开/授权日:2014-11-12